Sylabus
1) Kvantitativní analýza chemického složení metodou fotoelektronové spektroskopie (FS), FS valenčního pásu krystalů, vlnový vektor počátečního a konečného stavu, model volných elektronů v konečném stavu, studium pásové struktury při normálové emisi a proměnné energii fotonů, fotoelektronová spektroskopie s využitím synchrotronového záření. Studium valenčního pásu metodou úhlově rozlišené FS, ARUPS.
Studium lokální struktury povrchů metodou difrakce fotoelektronů, úhlově rozlišená FS vnitřních hladin. Pásová struktura dvoudimenzionálních krystalů.
Určování ploch konstantní energie, Fermiho plochy. Spinově rozlišená FS, majoritní a minoritní pásy.
Inverzní FS. Excitace satelitů v konečném stavu.
Resonanční FS. Absorpční rentgenová spektroskopie (XAS), NEXAFS-XANES, EXAFS.
FS buzená tvrdým zářením - HAXPES. 2) Meze platnosti kinematické teorie difrakce, dynamická teorie difrakce elektronů na povrchu pevné látky, užití dynamické teorie metodami LEED a RHEED. 3) Aplikace spektroskopických a elektronově difrakčních metod.
Anotace
Pokročilé metody zkoumání povrchů. Fotoelektronová spektroskopie (FS): kvantitativní analýza, rezonanční
FS, satelity v konečném stavu, studium pásové struktury krystalů metodou FS, XAS-NEXAFS-EXAFS, HAXPES,
úhlově rozlišená FS, fotoelektronová difrakce (XPD). Elektronová difrakce: dynamická teorie - difrakce nízkoenergetických elektronů (LEED) a difrakce rychlých elektronů na odraz (RHEED).