Sylabus
*
1. Základní principy Přehled metod, experimentální systémy (elektronová optika, zdroje záření, analyzátory, detektory), vakuové podmínky (střední volná dráha, vliv povrch. adsorpce, ...), vzorky (typy, požadavky a metody přípravy), vliv dopadajícího záření na složení a strukturu povrchu a metody jejich eliminace *
2. Transport elektronu pevnou látkou Elastické a neelastické interakce, interakční objem, útlumová vzdálenost, střední neelastická volná dráha, hloubka informace *
3. Spektroskopie Augerových elektronů Historie, mechanismus, experimentální zařízení, kvalitativní analýza (energie a tvary Augerových píků), kvantitativní analýza (intenzita emise Augerových elektronů) *
4. Spektroskopie charakteristických ztrát EELS - experimentální zařízení, ionizační a plazmonové ztráty, přechody uvnitř energetického pásu, rozšířená jemná struktura, ztráty indukované adsorbáty HREELS - experimentální zařízení, mechanismus elektronového rozptylu, experimentální výsledky *
5. Fotoelektronové spektroskopie Historie a společné principy, fotoionizační proces a fotoelektrický jev XPS - experimentální zařízení, kvalitativní analýza, kvantitativní analýza, efekty konečného stavu, úhlově rozlišené XPS (ARXPS) UPS - experimentální zařízení, spektra čistých povrchů a adsorbátů, úhlově rozlišené UPS (ARUPS) Synchrotronové metody - SRPES, HAXPES, ARPES, RPES IPE (Internal Photoemission Spectroscopy) - princip, experimentální zařízení, aplikace *
6. Přídavek (starší metody, nejnovější metody a moderní podoby klasických metod) Spektroskopie prahových potenciálů (appearance potential spectroscopy, APS), spektroskopie elasticky odražených elektronů (elastic peak electron spectroscopy, EPES), dvoufotonová fotoelektronová spektroskopie (2PPE), iontová neutralizační spectroskopie (ion neutralization spectroscopy, INS), autoemisní elektronová spektroskopie (field emission electron spectroscopy, FES), near edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS) El. spektroskopie v mikroskopických metodách: EDX a WDX v SEM, TEM, STEM; LEEM (SPELEEM, IV char., energ. filtr); STS v STM Operando metody - NAP-XPS, NAP-PES
Anotace
Metody Augerovy elektronové spektroskopie (AES), spektroskopie charakteristických ztrát (EELS), fotoelektronové spektroskopie (XPS, UPS, PES) a další elektronově-spektroskopické metody. Přednáška předpokládá znalost základů kvantové mechaniky a fyziky pevných látek.