Sylabus
*
1. Struktura pevných látek, základy krystalografie Historie, klasická definice krystalu, makroskopická souměrnost krystalů, prvky souměrnosti a jejich značení, stereografická projekce, bodové grupy, rovinné a prostorové krystalové mříže, krystalové soustavy, značení směrů a rovin, Millerovy indexy, Miller-Bravaisovy indexy, mezirovinné vzdálenosti, základní typy krystalových struktur. *
2. Elektronová difrakce Geometrická teorie difrakce, Laueho difrakční podmínky, Braggův zákon, kinematická teorie difrakce, geometrický a strukturní faktor, reciproká mříž, Ewaldova konstrukce, dynamické teorie, vyhodnocování difrakčních obrazců, profilová analýza. *
3. Metody elektronové difrakce LEED - difrakce nízkoenergetických elektronů, RHEED - difrakce vysokoenergetických elektronů na odraz, TEM - transmisní elektronová mikroskopie a difrakce, XPD - fotoelektronová difrakce. *
4. Aplikace elektronové difrakce ve fyzice povrchů a tenkých vrstev Ostrůvkové struktury a nanostruktury, modelové katalyzátory a senzory, tenké vrstvy.
Anotace
Struktura pevných látek, základy krystalografie, prvky souměrnosti, rovinné a prostorové krystalové mříže, krystalové soustavy, Millerovy indexy. Teorie elektronové difrakce, geometrický a strukturní faktor, reciproká mříž, Ewaldova konstrukce, vyhodnocování difrakčních obrazců.
Transmisní elektronová mikroskopie a difrakce, LEED, RHEED, XPD. Aplikace elektronové difrakce ve fyzice tenkých vrstev.