Syllabus
1) Příprava čistých povrchů, čištění monokrystalických povrchů, příprava tenkých orientovaných vrstev 2) Fotoelektronová spektroskopie (XPS), úhlově rozlišená fotoelektronová spektroskopie (ARUPS), fotoelektronová difrakce (XPD): teoretické základy úhlově rozlišených metod, teoretické základy zpracování dat, experimentální vybavení, praktická cvičení v laboratoři, měření a zpracování experimentálních dat. Moderní aplikace metod založených na fotoelektronové spektroskopii. 3) Elektronová difrakce RHEED, teoretické základy vyhodnocení difrakčních obrazců, mapování reciprokého prostoru metodou rotujícího vzorku, jevy neelastického rozptylu elektronů v difrakčních obrazcích, Kikuchiho linie, energetické filtrování RHEED difrakčních obrazců.
Praktické ukázky měření a zpracování experimentálních dat. Moderní aplikace metod založených na elektronové difrakci RHEED.
Charakterizace nanostruktur pomocí difrakce elektronů.
Annotation
Fotoelektronová spektroskopie (XPS), úhlově rozlišená fotoelektronová spektroskopie (ARUPS), fotoelektronová difrakce (XPD), difrakce rychlých elektronů na odraz (RHEED) s rotujícím vzorkem, energetické filtrování RHEED difrakčních obrazců, příprava čistých povrchů a ultra tenkých orientovaných vrstev, teorie a experiment, zpracování získaných dat. Praktické ukázky měření a zpracování experimentálních dat.