Sylabus
1. Zdroje záření Klasické zdroje, rotační anody, synchrotronové záření, zdroje neutronů
2. Monochromatizace Filtry, typy monochromátorů
3. Detekce záření Filmy, bodové, lineární, plošné detektory
4. Monokrystalové metody Filmové metody - Laue (orientace krystalu), Weissenberg, otáčený krystal, precese Difraktometry - Eulerova kolébka, kappa geometrie
5. Filmové práškové metody - Debye-Scherrerova metoda, Guinier
6. Informace obsažená v konvenčním práškovém difraktogramu. Stručný přehled základních metod práškové difrakce - upřesňování struktury z prášků, kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, studium mřížových parametrů, teplotních kmitů, velikostí částic, mikronapětí.
7. Zpracování práškového difraktogramu. Určení parametrů profilů difrakčních linií přímou metodou a pomocí aproximace analytickými funkcemi.
8. Přehled základních geometrií v rtg. difraktometrii. Konvenční prášková metoda, goniometry psi, omega, Seemannův- Bohlinův goniometr, vliv instrumentálních faktorů a absorpce. Hloubka průniku rtg. záření.
9. Identifikace neznámé fáze
10. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza
11. Určování mřížových parametrů
12. Rietveldova metoda zpřesňování struktur
13. Měření zbytkových napětí Klasifikace napětí, popis napětí, metoda sin^2 psi, měření dvojosých napětí filmovými a difraktometrickými metodami
14. Textury. ODF, měření textury na texturním goniometru, vláknité textury a jejich charakterizace pomocí konvenčního práškového difraktometru, jednoduché metody popisu textur (psi a omega skeny)
15. Studium profilů difrakčních linií. Korekce na instrumentální rozšíření, separace efektů mikronapětí a malé velikosti částic aproximačními metodami.
16. Studium velikosti, tvaru a rozdělení velikostí krystalitů v oboru 5 nm - 10000 nm.
17. Studium struktury amorfních materiálů. Difrakce a EXAFS
18. Základní metody řešení krystalových struktur Pattersonovské metody, přímé metody
Anotace
Zdroje rtg záření, monochromatizace, detekce.
Základní monokrystalové a práškové metody. Různé difrakční geometrie.
Zpracování práškového difraktogramu. Instrumentální korekce. Identifikace neznámé fáze. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza. Přesné měření mřížových parametrů. Rietveldova metoda. Základní metody měření zbytkových napětí a textur. Studium profilů difrakčních linií. Základní metody řešení krystalových struktur.
Studium struktury amorfních materiálů. Párová distribuční funkce. Maloúhlový rozptyl. Reflektivita.
Moderní rtg zobrazovací metody