1. Elektrolytická příprava folií pro pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu pomocí prístrojů Tenupol.
2. Popis a ovládání mikroskopu JEOL 2000 FX, základní centrování.
3. Pozorování poruch v krystalu (dislokační struktura, vrstevná chyba, hranice zrn, ?), pozorování částic a jejich analýza, fázová analýza, užití RTG záření k určení složení, difraktogram, Kikuchiho linie.
4. Obrazová analýza snímků s využitím pocítačového zpracování.
Speciální seminář pro 1., 2.r. nmgr FKSM a PGDS. Absolvování semináře je podmínkou pro užívání elektronového mikroskopu Jeol 2000 FX v rámci diplomové práce.
Příprava folií, manipulace s mikroskopem, pozorování struktur, použití obrazové analýzy při zpracování snímků. Výuka bude přizpůsobena konkrétnímu využití mikroskopie v dané diplomové práci (předpokladem je absolvování FPL115).