Sylabus
Růst krystalů
Příprava tenkých vrstev. Měření tloušťky tenkých vrstev, drsnosti a povrchové energie.
Elipsometrie.
Struktura povrchů a tenkých vrstev. Napětí a přednostní orientace. Studium napětí a textur v tenkých vrstvách, měření reflektivity
Diagnostika plazmové polymerace (hmotnostní spektroskopie, optická emisní spektroskopie)
Ramanova a IČ spektroskopie
Elektronová paramagnetická (spinová) rezonance EPR (ESR), spektroskopie v kondenzovaných látkách.
Zobrazování pomocí jaderných metod MR Imaging
Studium nanočástic pomocí DLS (dynamický rozptyl světla)
Anotace
Technologie přípravy krystalů a tenkých vrstev. Struktura a vlastnosti tenkých vrstev (tloušťka, drsnost, povrchová energie, napětí, textury atd.). Studium nanočástic. Rozptyl světla (DLS), Ramanova a IČ spektroskopie. Další vybrané spektroskopické a jaderné metody. Exkurze.
V předmětu jsou uvedeny principy a charakteristiky jednotlivých metod, jejich možnosti a případná omezení. V praktické části budou studenti seznámeni s typickými demonstračními úlohami k jednotlivým skupinám metod. Na přednáškách i cvičeních se podílí několik vyučujících.