Sylabus
1. Zobrazovací metody pro studium nízkodimenzionálních struktur Transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie pomalých elektronů, rastrovací techniky: rastrovací elektronová mikroskopie, rastrovací tunelová mikroskopie, mikroskopie atomové síly a její modifikace
2. Difrakční metody pro studium nízkodimensionálních struktur Difrakce rychlých elektronů, difrakce pomalých elektronů, rtg difrakce, rtg reflexe, maloúhlý rtg rozptyl
3. Studium elektronových stavů v nanostrukturách Optická spektroskopie, elipsometrie, spektroskopie fotoelektronů
4. Studium fononových stavů v nanostrukturách Nepružný neutronový rozptyl, Ramanův rozptyl, elipsometrie a IR absorpce
5. Chemická analýza nanostruktur Metody založené na rtg charakteristickém záření (rtg. fluorescence, elektronová energiově dispersní analýza, anomální rtg rozptyl) Metody elektronové spektroskopie (Augerovy elektrony, metoda EELS) Metody iontové spektroskopie (Rutherford backscattering, metoda SIMS)
Anotace
Struktura nízkodimenzionálních objektů – zobrazovací metody (TEM, LEEM, STM, AFM a jiné rastrovací metody)
Struktura nízkodimenzionálních objektů – elektronová difrakce – RHEED, LEED, rtg rozptyl – maloúhlý rozptyl, rtg difrakce.
Studium elektronových stavů – optická spektroskopie, elipsometrie, XPS, UPS, NMR, ARUPS
Studium fononových stavů – nepružný neutronový rozptyl, Ramanův rozptyl
Studium struktury a dynamiky v polymerech pomocí maloúhlového rozptylu neutronů a x-paprsků
Chemická analýza – metody SIMS, ERDA, NRA, RBS, Augerova spektroskopie, EDAX, rtg. fluorescence.