Publikace
- Metoda vyhodnocení celého difrakčního záznamu najednou aplikovaná na studium mikrostruktury vrstev TiO22010 | Matematicko-fyzikální fakulta
- X-ray diffraction investigations of TiO 2 thin films and their thermal stability2012 | Matematicko-fyzikální fakulta
- X-Ray Diffraction Analysis of Residual Stress in Thin Polycrystalline Anatase Films and Elastic Anisotropy of Anatase2011 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Structure and Composition of Titanium Nanocluster Films Prepared by a Gas Aggregation Cluster Source2011 | Matematicko-fyzikální fakulta
- In-situ rtg difrakční studia časové a tloušťkové závislosti krystalizace vývoje napětí v amorfních tenkých vrstvách TiO22010 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Rtg difrakční studium krystalizace a napětí ve vrstvách TiO22009 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Charakterizace mikrostruktury nanokrystalických prášků a tenkých vrstev pomocí práškové rtg. difrakce2009 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Rtg.difrakce polykrystalických tenkých vrstvev v koplanárním uspořádáním s nízkým úhlem odrazu2009 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Krystalizace a vývoj mikrostruktury tenkých vrstev TiO2 a prášků TiO2 studované metodou rtg difrakce (fitování celého záznamu najednou a analýza napětí)2009 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Časová a tloušťková závislost krystalizace amorfních magnetronově naprášených vrstev TiO22009 | Matematicko-fyzikální fakulta
Loading network view...