Publikace
- Effect of Ti interlayer and bias on structure and properties of TiN films2000 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction2004 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Thickness determination of thin polycrystalline film by grazing incidence X-ray diffraction2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Thickness determination of thin polycrystalline film by asymmetric X-ray diffraction with variable incidence of primary beam at low angles2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Structure study of Fe/Au multilayers1999 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Local ordering in magnetic multilayers as seen by X-ray diffraction1998 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Characterization of the real structure of ultra thin magnetic multilayers using X-ray reflectivity1998 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Rtg. difrakční studium tenkých PVD vrstev TiN1997 | Matematicko-fyzikální fakulta
Loading network view...