Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta |
2010
Abstrakt
Pozitronová annihilační spectroscopie (doba života oPs, koincidenční měření Dopplerova rozšíření) byla použita ke studiu defektů v kompozitech na bázi “Ti” připravených vysokoenergetickým mletím. Bylo zjištěno, že velikost nanoskopických děr je redukována s rostoucí dobou mletí v atmosféře H2/He a také pravděpodobnost formování Ps klesá.
Současně klesá i obsah Ti v okolí děr. Bylo navrženo jednoduché vysvětlení těchto pozorování.Efekt zaplňování nanoskopických pórů vodíkem je zesílen v TiH2 mletém s h-BN nebo B v atmosféře He.
Přes rozdílnost výchozích prášků, dostatečně dlouhá doba mletí vede k podobnému rozdělení velikostí nanoskopických děr v Ti/h-BN a Ti/B, avšak hustota nanoskopických děr v Ti/B je výrazně nižší než v Ti/h-BN.