Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta |
2010
Abstrakt
Interakce atomů Pt s CeO2 v připravených vrstvách byla studována pomocí metody fotoelektronové spektroskopie. Třicet nanometrů silné vrstvy CeO2 dopované atomy Pt byly připraveny rf-magnetronovým naprašováním současně na substrát Si(001), na mnohostěnné uhlíkové nanotrubky (CNTs) nanesené na uhlíkovou difúzní vrstvu palivového článku s polymerní membránou a na CNTs narostlé na křemíkovém waferu metodou CVD.
Metoda fotoelektronové spektroskopie s využitím synchrotronového záření odhalila vytvoření vrstev CeO2 s kompletně ionizovanými atomy Pt2+ a Pt4+ a ukázala, že poměr Pt2+/Pt4+ závisí silně na použitém substrátu. Při zkoumání metodami TEM a XRD bylo zjištěno, že poměr Pt2+/Pt4+ je závislý na struktuře vrstvy.