Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta |
2010
Abstrakt
Tenké vrstvy MgCl2 byly deponovány na povrch monokrystalu Ti(0001) a jejich rozhraní jsme studovali rentgenovou fotoelektronovou spektroskopií (XPS), spektroskopií sekudárních iontů (ISS) a rozptylem pomalých elektronů (LEED). Během tepelné úpravy jsme nepozorovali žádnou migraci atomů Ti do deponovaných tenkých vrstev, naopak se vrstvy za vyšších teplot shlukovaly do clusterů a posléze při teplotách 360 až 380 st.
Celsia desorbovaly stechiometricky.