Abstrakt
Byly realizovány šumové charakteristiky krystalů CdTe připravených Bridgmanovou metodou z taveniny teluru. Měření šumu ukazují, že dominantní je šum 1/f^n s parametrem n v rozsahu od 0.9 do 1.5 a často velmi blízko jedničce.
Experimentální hodnota šumu je vždy mnohem vyšší než teoretická hodnota odpovídající celkové koncentraci volných nosičů ve vzorku. Analýza ukazuje, že přebytečný šum 1/f je způsoben nízkou koncentrací nosičů v ochuzené oblasti přechodu kov-polovodič.