Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta |
2010
Abstrakt
Článek se zabývá problémem hranice morfologické stability dielektrického filmu, který je podroben vlivu teplotního gradientu. Je ukázáno, že elektrické pole, které vzniká v důsledku dielektrického Seebeckova jevu (M.
Marvan, Czech J. Phys. 19 (1969) 1240), může podstatně přispívat k nestabilitě tenké dielektrické vrstvy.
Nalezli jsme podmínky, kdy tento jev způsobuje vznik nano- nebo mikro-struktur.