V publikaci prezentujeme novou metodu pro stanovení kritické micelární koncentrace (CMC), založenou na sledování mobilit některých systémových píků. Hodnota kritické micelární koncentrace je obvykle určena změnou směrnice, či inflexním bodem v závislosti dané fyzikální veličiny na koncentraci surfaktantu.
Narozdíl od běžných metod sleduje nově navržená metoda skok v pozorované veličině, čímž umožňuje přesnější určení hodnoty CMC. Metoda byla navržena pomocí simulačního programu PeakMaster, který byl upravený pro simulace micelárních systémů.
Simulaci prudkého skoku v mobilitách anionických systémových píků jsme experimentálně ověřili pomocí sady roztoků se zvyšující se koncentrací surfaktantu za udržování konstantní iontové síly. Platnost naměřených hodnot CMC jsme ověřili doplňkovým měřením za použití elektrického proudu.
Nově navržená metoda nabízí jednodušší a přesnější určení CMC ve srovnání s běžně používanými metodami.