Určení koncentrací Mn a P v Ga1-xMnxAs1-yPy

Abstrakt

Je prezentována metoda určení koncentrací atomů Mn a P v Ga1-xMnxAs1-yPy založená na srovnání simulovaného a měřeného difrakčního záznamu. Výpočet vychází ze strukturního faktoru ovlivněného koncentrací prvků.

Klíčová slova

• Determination
• concentration
• Ga1-xMnxAs1-yPy