Charakterizace různých krystalových struktur na rozhraní SiO2/Si pomocí pozitronů

Abstrakt

Charakterizace různých krystalových struktur na rozhraní SiO2/Si pomocí pozitronů

Klíčová slova

• Characterization
• various
• crystalline
• structures
• SiO2/Si
• interface
• positrons