Další indikace křemenné struktury na rozhraní SiO2/Si pomocí koincidenční spektroskopie Dopplerova rozšíření

Abstrakt

Další indikace křemenné struktury na rozhraní SiO2/Si pomocí koincidenční spektroskopie Dopplerova rozšíření

Klíčová slova

• Further
• indication
• quartz
• structure
• SiO2/Si
• interface
• coincidence
• Doppler
• broadening
• spectroscopy