Kombinovaná studie ultratenkých krystalických vrstev InN na InP(100) metodami EELS, LEED, SR-XPS: vliv žíhání při 450 stupních Celsia

Abstrakt

Kombinovaná studie ultratenkých krystalických vrstev InN na InP(100) metodami EELS, LEED, SR-XPS: vliv žíhání při 450 stupních Celsia

Klíčová slova

• Combined
• SR-XPS
• study
• ultra-thin
• crystalline
• layers
• indium
• nitride
• Effect
• annealing
• °C