Mikroskopie atomárních sil (AFM), transmisní elektronová mikroskopie (TEM) a rastrovací elektronová mikroskopie (SEM) destičkovitých nanočástic jiné fáze

Abstrakt

Mikroskopie atomárních sil (AFM), transmisní elektronová mikroskopie (TEM) a rastrovací elektronová mikroskopie (SEM) destičkovitých nanočástic jiné fáze

Klíčová slova

• Atomic
• force
• microscopy
• transmission
• electron
• microscopy
• scanning
• electron
• microscopy
• nanoscale
• plate-shaped
• second
• phase
• particles