Publikace na Matematicko-fyzikální fakulta |
2010
Abstrakt
Měření Pockelsova jevu v reálném čase byla provedena na semiizolačních vzorcích CdZnTe s cílem měření profilu elektrického pole v objemu. V ustálených podmínkách je za pokojové teploty elektrické pole homogenní, s klesající teplotou nebo ozářením se deformuje.