- Application of Cr K alpha X-ray photoelectron spectroscopy system to overlayer thickness determination2011 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction2004 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Thickness determination of thin polycrystalline film by grazing incidence X-ray diffraction2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Thickness determination of thin plycrystalline films by low angle incidence diffraction2002 | Publikace bez příslušnosti k fakultě
- Thickness determination of thin polycrystalline film by low angle incidence x-ray diffraction2002 | Publikace bez příslušnosti k fakultě
- Thickness determination of thin polycrystalline film by asymmetric X-ray diffraction with variable incidence of primary beam at low angles2001 | Matematicko-fyzikální fakulta, Ústřední knihovna
- Opening angle of human saphenous vein2015 | 3. lékařská fakulta
- Ion scales of quasi-perpendicular low-Mach-number interplanetary shocks2013 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Depth profiling of ultra-thin alumina layers grown on Co(0001)2013 | Matematicko-fyzikální fakulta
- Microstructure of Hexagonal LuFeO3 Thin Epitaxial Layers2022 | Matematicko-fyzikální fakulta